《鍺單晶位錯(cuò)密度的測(cè)試方法》（GB/T5252-2020）【全文附高清無(wú)水印PDF版下載】

《鍺單晶位錯(cuò)密度的測(cè)試方法》（GB/T5252-2020）【全文附高清無(wú)水印PDF版下載】

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T5252-2020

中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：鍺單晶位錯(cuò)密度的測(cè)試方法

英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test method for dislocation density of monocrystal germanium

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS） H21 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS） 77.040

發(fā)布日期 2020-06-02 實(shí)施日期 2021-05-01

主管部門(mén) 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) 歸口單位 全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)





全文下載：《鍺單 晶位錯(cuò)密 度的測(cè)試方 法》（GB/T5252-2020）【提取碼: 9ia5】

掃描二維碼 關(guān)注我們

本文鏈接：http://m.per-better.com/bz/87308.html

本文關(guān)鍵詞： 單晶, 密度, 測(cè)試, 方法, GB, 2020, 全文, 高清, 水印, PDF版, 下載